低介電常數雷達物位計

簡要描述：低介電常數雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質

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更新時間：2023-10-13
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低介電常數雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線被測介質表面的距離成正比。由于電磁波的傳播速度*，發射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。CDRD50系列雷達物位計采用一種特殊的相關解調技術，可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。

低介電常數雷達物位計特點
由于采用了*微波處理器和*的EchoDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式，使得CDRD50系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數介質的測量等。
采用脈沖工作方式，雷達物位計發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境均無傷害。

應用: 存儲容器或過程容器,復雜過程條件

zui大量程：70m

測量精度：±20mm

過程連接：法蘭316L

天線材料：不銹鋼316L/PTFE

過程溫度：-40～200℃

過程壓力：-1.0～40bar

頻率范圍：6GHz

信號輸出：兩線制/四線制4～20mA /HART

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